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  • 德國蔡司掃描電鏡原位解決方案-華普通用

    發表日期:2022/05/07 瀏覽次數:

    掃描電鏡原位技術已經廣泛應用于材料科學研究的各個領域,它可以將材料宏觀性能與微觀結構聯系起來,這對研發高性能新型材料非常有幫助。但電鏡原位實驗從來都不是一個簡單的工作,有的時候甚至還需要一些運氣。

    為了讓電鏡原位實驗變得更加智能高效,蔡司最新推出了掃描電鏡原位解決方案。今天就讓我們一起看看,蔡司這套原位解決方案擁有哪些黑科技吧!

    高度集成化:告別手忙腳亂

    蔡司掃描電鏡原位解決方案將掃描電鏡、原位樣品臺、EBSD和EDS控制軟件深度整合,在單臺PC的一個軟件中就可以控制所有硬件,實現成像、分析以及原位樣品臺參數設定的高度集成。

    蔡司掃描電鏡
    蔡司掃描電鏡原位解決方案

    開創性自動化實驗流程:節省時間 + 解放雙手

    蔡司原位電鏡解決方案可實現自動化原位實驗工作流程,集成化軟件不僅可以自動控制樣品臺應力加載,還可以設定多個感興趣區域(ROI),并對不同ROI進行自動追蹤、自動聚焦、自動獲取圖像。不同ROI的成像參數可以獨立設定,系統還可以識別樣品斷裂狀態并自動終止實驗。

    從此原位實驗將變得自動智能,減少人工操作時間,大幅提升測試效率,并且可實現長達24小時的無人值守自動化測試,這樣就可以充分利用夜晚時間,使電鏡利用率大大提升。

    自動獲取EBSD和EDS數據:獲取樣品全面信息

    該套新解決方案的處理軟件不僅可以自動獲取圖像,還加入了EBSD和EDS自動獲取功能,可追蹤并獲取樣品同一位置的EBSD和EDS分析結果,全面分析材料變化過程。

    數據獲取和處理:高通量、高質量、高效率

    自動化高效測試意味著可以得到大量實驗數據,不放過樣品每一個變化細節,獲取具有統計意義的結果,而人工干預因素的減少也可以大大提升實驗可重復性和數據可靠性。

    當然,蔡司場發射掃描電鏡GEMINI技術也是獲取高質量、高分辨數據的強有力保證。該方案還配置有ZEISS-GOM關聯軟件,可對數據進行數字圖像相關(DIC)處理,研究樣品表面應變分布。

     

    蔡司掃描電鏡
    表面拋光的低碳鋼樣品 (S235JRC)。樣品表面上的小顆粒用作 DIC的標記。SE 圖像被導入 GOM關聯軟件進行 DIC 分析。圖像中可以顯示主要應變的幅度和方向。


    蔡司掃描電鏡原位解決方案整合了電鏡、原位臺、EBSD與EDS軟件控制,在進行原位加熱和拉伸實驗過程中加入高度自動化功能,使得在動態繪制應力應變曲線的同時,能夠自動觀察金屬、合金、聚合物、塑料、復合材料和陶瓷等材料在高溫和外力下的變化情況。


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